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ABI-BM8200电路板故障检测仪,测试仪器网专业销售,提供ABI-BM8200电路板故障检测仪产品简介,技术参数.
产地:英国 | 厂商:英国ABI | 价格: |
ABI-8200包含2个重要测试模块:abi-6400+2400
模块一:ABI-6400的技术参数
主要测试功能:
1)64通道数字集成电路在线、离线功能测试
产品特征描述
1)中英文测试软件,产品体积小,重量轻,USB接口,适合携带
测试准确-源自先进的测试技术
1.同一器件同一时间完成多种测试:功能测试,V-I曲线测试,曲线拐点温度变化系数,各个管脚电压值测量,管脚连接状态测量显示,
英国ABI-6400电路板故障检测仪技术参数:
参数规格 |
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测试通道数: | 64通道 |
总线隔离信号信道数: | 4通道 |
输出驱动电压: | TTL/CMOS 标准 |
输出驱动电流: | 电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V |
| 一般 L-H 200mA @ 2V |
| Max. 400mA |
驱动电压转换比: | >100V/µs |
电压范围: | +/-10V |
输入阻抗: | 10k |
逻辑形态: | 三态或开集极开路 (内定或由程序设定) |
驱动逻辑形态: | Low, high, 三态 (tri-state) |
过电压保护范围: | <0.5V, >5.5V |
最长测试时间: | 根据被测元器件而定 |
测试方式: | 在线及离线测试 (需外接离线测试盒) |
电源供给规格参数 |
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自动供给电源输出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
过电压保护: | 7V |
过电流保护: | 7A |
测试模式 |
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单次(Single): | 单次测试 |
循环(Loop): | 反复测试, 或条件式循环测试(PASS或FAIL) |
自动扫描测试: | 可找到较为严格的逻辑电平阈值 |
逻辑电平阈值设定规格参数 |
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最小调整解析: | 100mV |
低电平Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V |
三态Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
| CMOS 1.0V to 3.0V |
高电平High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V |
扫描低逻辑范围Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V |
扫描逻辑转态范围Swept switching levels: | TTL 1.2V |
| CMOS 2.5V |
扫描高逻辑范围Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V |
测试功能及参数 |
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集成电路功能测试 | 根据测试库的功能进行测试,根据元件的原理和真值表进行测试 |
元器件连接特性测试 |
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| 短路状态侦测 Short circuit detection |
| 悬浮(浮接)状态侦测 Floating input detection |
| 开路状态侦测 Open circuit detection |
| 连接状态侦测 Linked pin detection |
电压量测Voltage: | 最小解析 10mV 范围 +/-10V |
| 具逻辑状态侦测 Logic state detection |
VI曲线测试: | 测试通道数64 |
| 电压设定范围 -10V to +10V (可自行设定),可以设置非对称电压扫描 |
| 最大测试电流 1mA |
曲线拐点系数: | 管脚的v-i曲线图中的拐点图形,随温度产生变化的系数,对于判定温漂的故障元件非常有帮助 |
配件 |
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标准配件 | 1 x离线测试测试盒 |
| 1 x 64 way test cable (64通道测试线) |
| 1 x 64 way split test cable (2X32通道测试线) |
| 1 x V-I probe assembly (V-I曲线测试探棒) |
| 1 x BDO cable (隔离通道信号测试线) |
| 1 x Short locator cable (短路电阻测试探棒) |
| 1 x Ground clip (接地信号夹) |
| 1 x PSU lead set (电源输出线) |
通讯及机箱 |
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内置通讯接口 | PCI interface (通讯接口) |
外置通讯接口及机箱 | MultiLink case (标配) 为 USB.通讯端口 |
模块二:ABI-2400的技术参数
ABI2400电路板故障检测仪特点:
1)适合数字及模拟集成电路的测试
ABI2400测试技术参数
V-I 测试参数 | |
测量通道 | 24路测试通道 |
探笔通道 | 2通道实时对比测试 |
信号通道 | 2通道同步脉冲信号 |
测试电压范围 | 2 V to 50 V peak to peak: 2、4、6、8、10、20、30、40、50V |
电压分辨率: | 8 to 12 bits |
测试频率范围: | 37.5 Hz to 12 kHz: 37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600/750/960/1.2k /1.5k/2.4k/3k/4.8k/6k/12kHz |
信号电流范围: | 1 μA to 150 mA |
测试阻抗范围: | 100Ω to 1MΩ 100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
测试信号波形: | 正玄波、三角波、斜波 |
显示图形模式: | V-I, V-T, I-T |
矩阵测试 | 各个管脚间的VI曲线测试 |
测量波形自动对比功能: | 可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形, 或是将波形进行存储之后, 再进行比对工作. |
同步脉冲输出模式: | 正向(Positive), 负向(negative)或双向(bipolar)波形,直流模式 |
同步信号振幅: | 可调式由 +10 V ~- 10V |